Mahr | Termékújdonságok

Optikai felületmérés: hatékony, gyors, pontos

Marketing csapat
A Mahr újraindította nagy teljesítményű konfokális mikroszkópjait a MarSurf CM explorer termékcsaládból.

A Mahr újraindította nagy teljesítményű konfokális mikroszkópjait a MarSurf CM explorer termékcsaládból. A kompakt asztali rendszerekkel három dimenzióban, érintkezés nélkül, anyagtól függetlenül, rendkívül gyorsan és pontosan mérhetünk felületeket.

Robusztus kialakításuknak és a környezeti hatásokra való érzéketlenségüknek köszönhetően a készülékek alkalmasak a teszt- és ellenőrző laboratóriumokban, valamint a gyártás minőségbiztosítására. A konfokális mikroszkópok szinte minden anyag, például fém, üveg, kerámia, félvezető, polimer vagy szerves anyag pontos és megismételhető 3D mérését lehetővé teszik, mindössze néhány másodperc alatt.

Az optikai rendszerek alkalmazási területei ugyanilyen változatosak. A DIN EN ISO 21920 / 25178 szabvány szerinti érdességmérésekhez, topográfiai mérésekhez, mint például térfogat, kopás, izotrópia, vagy mikrogeometriák és rétegvastagságok méréséhez használják őket. A készülékek kvantitatívan nyomon követhető 3D jellemző értékeket határoznak meg, és ezért számos iparágban alkalmazhatók, például a következőkben

  • autóipar
  • gépgyártás
  • elektronikai és félvezetőipar
  • mikrorendszer-technológia
  • optika
  • orvostechnika
  • anyaggazdálkodás

Két változat közül választhat

A MarSurf CM explorer termékcsalád felhasználófüggetlen és teljesen automatikus méréseket kínál Önnek 100 x 100 mm-es úthosszal és ezáltal egyszerű kezelhetőséggel. Az Ön igényeitől és mérési feladataitól függően választhat a két változat, a MarSurf CM explorer 100 vagy a MarSurf CM plus explorer 100 között, amelyek mindegyike nagyon magas ismétlési pontossággal rendelkezik.

Szabadalmaztatott multi-pinhole technológia a rendkívül gyors képfelvételhez

A konfokális mikroszkópok a speciálisan kifejlesztett és szabadalmaztatott multi-pinhole technológiának köszönhetően ultragyors képfelvétellel garantálják teljesítményüket nagy mérési pontsűrűség mellett. Ez egy különösen alacsony zajszintű eljárás, amely kiváló minőségű és szűretlen nyers adatokat biztosít. A készülékek emellett nagy felbontást kínálnak Önnek maximális robusztussággal, élelfogadással és dinamikával. Emellett rendkívül alacsony szórt fény és robusztus, nagy fényhozamú jelzések jellemzik őket. Ennek eredményeként a nanométeres tartományba eső magassági felbontást érnek el.

Szeretne többet megtudni a Mahr optikai méréstechnikájáról a felületelemzéshez?

Weboldalunkon megtalálja

Info
Felfelé